高性能晶片探针和测试接触器进行产品检测
晶片探针用于确定像集成电路和微机电系统（MEMS）传感器的电气设备的性能。例如，该探针是在半导体和汽车市场预发射验证和生产测试中使用。其尺寸小至几微米，它们可以低成本地大量电铸产生。雷竞技newbee
我们的成本效益的晶圆探测解决方案
VECO是电铸垂直探针与高稳定的接触电阻和优良的机械和电气特性的主要生产商。我们国家的最先进的光刻设备允许在单批成千上万个探测器快速，准确，经济的工具。每一个探头仔细监测，以满足最苛刻的质量标准和产品一致性保证。
主要规格
更高纵横比使细间距和进一步的小型化
低弯曲半径
降低成本由于非常大的基片
平滑，提高可靠性自由断裂面
自动检查
材料特性进行调整，以您的特定需求
经济，高效的工具使探测器降低成本和更短的交货时间