用于产品测试的高性能晶圆探针和测试接触器
晶片探针用于确定集成电路和微机电系统(MEMS)传感器等电子设备的性能。例如，该探针用于半导体和汽车市场的上市前验证和生产测试。由于尺寸只有几微米，它们可以通过电铸大规模生产。雷竞技newbee
我们性价比高的晶圆探针解决方案
维可是电铸垂直探头的领先生产商，具有高度稳定的接触电阻和优异的机械和电气特性。我们最先进的光刻设备允许快速，准确，经济的工具数以千计的探针在一个批次。每一个探针都经过仔细的监控，以满足最苛刻的质量标准，并保证产品的一致性。
主要规格
更高的纵横比使更细的螺距和进一步的小型化成为可能
低弯曲半径
由于非常大的衬底，成本较低
光滑，无裂缝的表面，提高可靠性
自动检查
材料属性可以根据您的具体需要进行调整
经济和高效的模具，可以降低探头成本和缩短交货时间